• 버스트 길이: 8, 4 (tCCD = 4, 원활한 읽기/쓰기 불가 [On the fly A12 또는 MRS 사용]
• 양방향 차동 데이터 스트로브
• 내부 (자체) 캘리브레이션: ZQ 핀을 통한 내부 자체 캘리브레이션
(RZQ: 240옴 ± 1%)
• ODT 핀을 사용한 온다이 종단
• 85°C 미만 시 평균 새로고침 주기 7.8us, 85°C 시 3.9us
T
CASE < 95 C 85
C < TCASE < 95 C • 비동기 리셋
• 패키지: 96볼 FBGA - x16
• 모든 리드프리 제품은 RoHS 규격 준수
• 모든 제품은 할로겐 프리
• 읽기/쓰기 데이터 보안을 위한 CRC (Cyclic Redundancy Check)
• 명령 주소 패리티 검사
• DBI (Data Bus Inversion)
• 기어 다운 모드
• 데이터 입출력을 위한 POD (Pseudo Open Drain) 인터페이스
• 내부 VREF (데이터 입력용)
• 외부 VPP (DRAM 활성화 전원용)
• hPPR 지원
4Gb DDR4 SDRAM F-die는 32Mbit x 16 I/O x 8뱅크 장치로 구성됩니다. 이 동기식 장치는 일반 애플리케이션을 위해 최대 3200Mb/초/핀(DDR4-3200)의 고속 이중 데이터 전송 속도를 달성합니다. 이 칩은 포스트 CAS, 프로그래밍 가능한 CWL, 내부 (자체) 캘리브레이션, ODT 핀을 사용한 온다이 종단 및 비동기 리셋과 같은 다음 주요 DDR4 SDRAM 기능을 준수하도록 설계되었습니다. 모든 제어 및 주소 입력은 외부에서 공급되는 차동 클럭 쌍과 동기화됩니다. 입력은 차동 클럭(CK 상승 및 CK 하강)의 교차점에서 래치됩니다. 모든 I/O는 소스 동기식 방식으로 양방향 스트로브(DQS 및 DQS) 쌍과 동기화됩니다. 주소 버스는 RAS/CAS 멀티플렉싱 스타일로 행, 열 및 뱅크 주소 정보를 전달하는 데 사용됩니다. DDR4 장치는 단일 1.2V(1.14V~1.26V) 전원 공급 장치, 1.2V(1.14V~1.26V) V
DDQ
및 2.5V(2.375V~2.75V) V
PP
로 작동합니다. 4Gb DDR4 F-die 장치는 96볼 FBGAs(x16)로 제공됩니다.